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上海泛标工程师解读背景对红外热像仪测温的影响

2023-10-17 点击:

上海千实精密机电科技有限公司成立于2012年,专注于研发、设计及生产纺织测试仪器,为学术研究单位及检测机构提供纺织测试仪器和服务,上海千实是目前国内较有竞争力和研发实力的纺织检测仪器厂家之一,研发团队由一群经验丰富的工程师组成,我们本着全心全意为客户服务,努力推动纺织检测仪器技术革新而努力,上海泛标纺织品检测技术有限公司是内地分公司,标准集团(香港)有限公司是总公司,作为一家集研发、制造、销售、培训、服务于一体的现代技术企业,致力于将更多检测仪器输送市场,提供纺织类、皮革类、燃烧类、汽车内外饰件、材料环境气候老化等等检测仪器,更可接受非标定制,购买前均可按照客户的要求进行针对性试验,确保所购仪器适用。

红外热成像仪的探测器不仅接受被测物体表面发射的辐射能;

还可能接受周围环境经被测物体表面反射和透过被测物体的辐射能。

后两部分的辐射会直接影响到测温的准确度。

因此,当被测物体表面发射率低,背景温度高,而被测温度又和背景温度相关不大时,就会引起很大的测温误差。

为了消除背景温度对测温的影响,红外热成像仪通常系统采取了两种背景温度补偿方法:

①以背景温度不变为前提,只要知道背景温度,对背录温度的变化取平均值;

通过系统软件的计算,即可得到正确的测量值。这种补偿只适于背景温度变化不大的情况。

②实时补偿。

当背景温度随时间变化很大、很快时,使用另外一个专门测量背景温度的传感器,再通过软件进行实时补偿。

上海泛标纺织品检测技术有限公司作为一家集研发、制造、销售、培训、服务于一体的企业,致力于将更多检测仪器输送市场,是标准集团(香港)有限公司内地分公司,负责内地销售业务。